SIM 表面测绘仪

型号 : Enli-SIM

超高解析、高质量、高速影像

Enli Tech SIM表面测绘仪运用结构式照明显微技术,突破一般传统光学绕射限制 (Diffraction Limit),水平轴的分辨率达165 nm,垂直轴的分辨率达352 nm,大幅提升2倍的解析能力;同时,Enli Tech SIM运用独家技术,去除非焦平面的背景光讯号干扰,可提供研究者轻松撷取三维超高解析的样品影像信息,让光学显微镜观察范围推向奈米等级,开启超高解析影像新视野!

表面测绘仪_工业应用_软件型号 规格
iSIM-Topo a. 反射样品表面形貌影像撷取
b. 樣品表面形貌测绘与三维影像显示
Stack Model 算法

表面测绘仪_生医应用_软件型号 规格
iSIM-Bio Topo a. 细胞表面形貌影像撷取
b. 细胞膜形貌测绘 与 三维影像显示
Slice Model 算法

超解析结构光源 规格
Optical Transmission 360 nm to 800 nm
Light Source 425 nm to 650 nm
Peaks: 450/25 nm, 550/40 nm, 630/20 nm
Extinction ratio > 1500:1
Maximum Frame Rate @ 8bit 120 FPS (frame/sec)
Minimum exposure time @ 8bit 8.3 ms
Input trigger / Output trigger TTL, BNC connector
Output trigger delay User Programmable (ms)

突破光学绕射限制,超越2倍以上超高解析力

Enli Tech SIM表面测绘仪建构于结构式照明显微术(Structured Illumination Microscopy)技术原理,运用结构式图样照明清楚照射在样品焦平面上,伴随远离样品焦平面时,图样的结构会快速模糊之光学特性,搭配光焱科技开发的特殊结构式照明图样,并将撷取的影像资讯,透过独家影像运算处理技术,让样品原本遗失的影像细节还原,进而获得高于原光学系统二倍以上的超解析能力的影像资讯。

超高速影像撷取速度:5张/秒

Enli Tech SIM 表面测绘仪拥有超高速撷取性能,影像帧率为5张/秒,每0.2秒即可完成一张超高解析样品三维表面影像的撷取与记录,有效大幅降低样品三维表面测绘所需的成本时间。

超高解析三维成像技术

Enli Tech SIM表面测绘仪,提供超高解析、立即性,以及3D视觉化的样品表面形貌。可搭配系统整合,支援以下影像显示方式:

● 互动式三维视角显示

● 线颇曲线数据分析

● 三维动态视角影片输出


Topography

Line Profile and Automatic Statistical Analysis

3D Display

太阳能电池表面形貌

显微镜升级,客制化SIM系统整合,提供全方位解决方案

全面依据客户专业领域、成本考量,提供专业评估与建议,为客户量身设计工业/生医应用表面测绘仪,提供以下解决方案:

● 「Enli Tech SIM全套设备方案」提供整套的超高解析显微镜设备方案,给需要完整测样设备的客户,提供高解析样品表面测绘量测解决方案。

● 「三维表面测绘光源模组整合方案」我们拥有强大的系统整合能力,让想要升级现有显微镜系统的客户,能在低成本负担下提升显微镜的三维量测性能。


光焱科技突破光学极限,为了克服并解决产业界及研究学者对于量测三维微结构的需求,开发出三维超解析影像演算技术,整合超解析结构光源时空调控之特性,以及高速奈米移控同步系统,打造可应用于工程工业及生医生技领域的全方位Enli Tech SIM超高解析显微镜

超高解析显微镜内建不同的三维超解析影像演算技术,依据生物与非生物样品表面不同的光学特性进行三维影像的运算与重建,可应用的领域如下:


工程工业领域:半导体/材料制程/生物医材应用

● C晶片内微机电制程的三维结构(半导体)

● 钙钛矿镀膜三维结构(材料制程)

● LED发光晶片电极三维结构(材料制程)

● 太阳能电池电极三维结构(材料制程)

● 生物微流道晶片三维结构(生物医材)

- Dynamic 3D Display

Morphology of solar cell

IC Silicon Chip Structure 3D Display

Coming soon!
Coming soon!